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【CIM 加速,AI有方】No.2|GT Insights用AI工作流改写半导体智造决策范式

2025-10-18 17:37
发布者:dnde54680ea75
来源:dnde54680ea75
标签:物联网
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在半导体制造领域,数据驱动的精准决策正成为提升良率、降低成本的核心竞争力。然而,传统的数据分析系统往往面临三重挑战,使得大量工业数据价值难以被快速挖掘。

获取门槛高:依赖专业的SQL编写或复杂的BI工具操作,将大量业务人员挡在数据门外。

分析周期长:从数据提取、清洗到建模分析,一个完整的良率根因分析往往耗时数天,决策严重滞后。

知识传承难:资深工程师的分析经验与思路难以沉淀和复用,形成“人在知识在,人走经验失”的困境。

格创东智最新推出的GT Insights产品,正是为了打破这一困境。作为基于自然语言处理与大模型技术的对话式商业智能分析系统,GT Insights正在重新定义半导体工厂的数据交互方式。与传统BI工具不同,GT Insights支持用户通过自然语言对话直接获取所需数据分析和可视化结果,通过AI工作流将数据分析的门槛和周期降至前所未有的水平,实现“数据民主化”的愿景。

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1、对话即分析,让数据开口说话

GT Insights的核心突破在于实现了“对话即分析”的自然交互模式。工程师只需用简单的自然语言提问,如“展示A产品第三季度良率趋势”,系统便能自动理解意图,在后台完成从语义解析、SQL生成、数据查询到可视化呈现的全流程,降低数据分析门槛。

其背后技术架构围绕语义建模层展开,创新性地解决了LLM在工业场景中直接处理物理数据库的诸多挑战。通过构建业务指标与维度的语义层,系统将复杂的物理表结构转化为业务友好的数据模型,使LLM能够生成精准的语义SQL,再通过语义层转换为可执行的物理SQL ,实现准确理解业务术语并生成可靠的分析结果。这一设计不仅大幅提升了查询准确率,使得整个生成过程可验证、可追溯,为后续的智能分析奠定了坚实基础。

从技术架构看,GT Insights采用分布式部署方案,支持集群化扩展,确保系统的高可用性和稳定性。其核心组件包括语义建模层、多Agent框架、LLM集成层以及StarRocks分布式数据仓库,共同构成了完整的工业级智能分析平台。

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2、从“天”到“分钟”,AI工作流重构良率分析范式

良率分析是GT Insights最具颠覆性的应用场景。在传统模式下,一次低良率根因分析往往需要工程师在不同系统间手动提取数据,尝试多种统计方法进行数据收集、整理和多维度交叉分析,耗时数天。而GT Insights通过预设的AI工作流,系统能够自动执行完整分析链,将这一过程压缩到分钟级。

比如,当用户提出“分析产品A上周低良率原因”时,系统会自动触发多步分析流程:首先进行意图识别,锁定产品与时间范围;接着执行Daily BIN分析,定位异常BIN及时间点;然后启动HeatMap热力图叠加分析,找出缺陷分布规律;再通过Commonality共性分析,追溯至可疑机台;最后全链路生成分析报告。整个过程无需人工干预,几分钟内便自动生成一份包含异常BIN与问题机台的指向明确、证据链完整的结构化分析报告。

而在功能层面,GT Insights展现出全方位的数据处理能力。从基础的图表生成、多维度钻取分析,到复杂的良率根本原因定位、SPC统计过程控制,系统均能通过对话式交互快速响应。其独有的Dashboard自动生成功能,用户仅需用自然语言描述需求,系统即可智能编排分析图表,形成完整的监控视图。

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3、不止于问答,智能体协同与生态集成

GT Insights的价值不止于单点能力的突破,更在于其作为格创东智CIM AI Foundation的重要组成部分,与它基于格创东智的Octopus AI Agent平台3.0开发,可通过AI Agent框架,与Planner Agent、Yield Analysis Agent等智能体“数字员工”协同工作。从被动响应走向主动规划分析路径、调用第三方工具(如SPC软件、良率分析插件),形成闭环的分析决策能力。

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在系统集成层面,GT Insights提供“主驾”与“副驾”两种模式。既可作为独立的分析平台直接使用,也能以插件形式嵌入到MES、YMS等现有业务系统中,用户在操作业务界面时可随时唤出AI助手进行辅助分析,实现“业务操作即分析”的无缝体验。

对于半导体CIM系统而言,GT Insights的引入标志着从“流程自动化”到“智能决策”的重要演进。传统CIM系统主要关注生产过程的自动化和数据采集,而GT Insights则为这些海量数据赋予了智能分析的能力,使制造执行系统真正具备自感知、自分析、自决策的智能化特征。

目前,格创东智GT Insights已在多家半导体制造企业成功落地,帮助客户在良率提升、设备效率优化、生产周期缩短等方面取得显著成效。以半导体封装和测试企业为例,该企业原本面临良率分析周期长、专家经验难以沉淀、多系统数据孤岛等问题。通过部署格创东智GT Insights,企业构建了覆盖良率数据、追溯信息和AOI图像的全链路分析能力,显著提升产品良率,大幅降低系统运维成本和员工培训成本。

随着工业大模型技术的不断成熟,GT Insights所代表的对话式BI正成为半导体CIM领域数字化转型的重要方向。格创东智通过将先进AI技术与深厚行业知识相结合,为半导体行业提供了一条切实可行的智能化升级路径,助力中国半导体制造向更高效、更精准、更智能的方向持续迈进。未来,GT Insights将持续深化在半导体特定场景的专用能力,扩展更多垂直行业的解决方案,推动工业智能从“可用”向“好用”不断进化,为制造业的数字化转型注入新动能。

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